Referenz
Giffen, B., Beitinger, G., Ludwig, H., Schiano, B., Schmidt, K., & vom Brocke, J. (2025). The Culture Clash of AI Adoption in Lean Quality Management. Resolving the Tensions at Siemens Electronics Works Amberg. Information Systems Journal.
Publikationsart
Beitrag in wissenschaftlicher Fachzeitschrift